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Smita Krishnaswamy (u. a.) | Design, Analysis and Test of Logic Circuits...

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Titel: Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty | Medium: Buch | Autor: Smita Krishnaswamy (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xii / 124 S. | Auflage: 2013 | Sprache: Englisch | Seiten: 136 | Maße: 241 x 160 x 13 mm | Erschienen: 21.09.2012 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Autor:

Smita Krishnaswamy
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2012
Anzahl der Seiten:

136
Marke:

Springer Netherland, Springer Netherlands
Hersteller:

Springer Netherland, Springer Netherlands
Herstellernummer:

80016783
Verlag:

Springer Netherland, Springer Netherlands
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Importe
Ausgabe:

2013
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

9048196434

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