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Halbleiter-Erinnerungen: Technologie, Tests und Zuverlässigkeit von Ashok K. Sharma

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Chapter 1: Introduction. 2.1 Introduction. 3.1 Introduction. 3.5 Electrically Erasable PROMs (EEPROMs). 4.1 Introduction. . 4.2 RAM Fault Modeling. 4.3 RAM Electrical Testing. 4.7 IDDQ Fault Modeling and Testing.

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  • ISBN-13:
    9780780310001
  • Book Title:
    Semiconductor Memories
  • ISBN:
    9780780310001
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