Sebastian Huhn Rolf Drec Design for Testability, Debug and Reliab (Taschenbuch)
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This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. Autor: Sebastian Huhn, Rolf Drechsler.
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Autor:Rolf Drechsler
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Verlag:Springer Nature Switzerland AG
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Buchtitel:Design for Testability, Debug and Reliability
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Subtitle:Next Generation Measures Using Formal Techniques
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EAN:9783030692117
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ISBN:9783030692117
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Ausgabe:2021 ed.
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Genre:Computing & Internet
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Thematik:Technology & Engineering
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Erscheinungsdatum:20.04.2022
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Sprache:Englisch
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Herstellungsland und -region:CH
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Höhe:235mm
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Länge:155mm
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Produktart:Taschenbuch
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