Die Inhalte dieser Webseite enthalten Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten.
  • Bild 1

Rastertransmissionselektronenmikroskopie: Erweiterte Charakterisierungsmethoden für

Ø 0.0
0 Bewertungen
99,31 €

Scanning Transmission Electron Microscopy is focused on discussing the latest approaches in the recording of high-fidelity quantitative annular dark-field (ADF) data. Scanning Transmission Electron Microscopy.

Jetzt bei Ebay: