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Scanning Probe Microscopy of Soft Matter: Fundamentals and Buch Wiley-VCH

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Das Buch behandelt die grundlegenden Prinzipien und Techniken der SPM, einschließlich der verschiedenen Modi wie Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rastertunnelmikroskopie (STM). Praktische Anleitungen und Fallstudien veranschaulichen den Einsatz dieser Technologien in der modernen Materialforschung.

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Anzahl der Seiten:

642
Autor:

Singamaneni, Srikanth
Buchtitel:

Scanning Probe Microscopy of Soft Matter: Fundamentals and B
Sprache:

Englisch
Verlag:

Wiley-VCH
Erscheinungsjahr:

2012-01-18
Format:

hardcover
Breite:

173.000
Höhe:

33.000
EAN:

9783527327430
ISBN:

9783527327430

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