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Ruey-Wen Liu | Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems | Buch | xv

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Titel: Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems | Medium: Taschenbuch | Autor: Ruey-Wen Liu | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xv / 284 S. / 2 s/w Illustr. / 284 p. 2 illus. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 1991 | Sprache: Englisch | Seiten: 304 | Maße: 229 x 152 x 17 mm | Erschienen: 08.03.2012 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems
Autor:

Ruey-Wen Liu
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2012
Anzahl der Seiten:

304
Marke:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Hersteller:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Verlag:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

Softcover reprint of the original 1st edition 1991
Schlagworte:

Informatik, Computerhardware, EDV, Verstehen
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1461597498

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