Ronald G Reifen Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: (Taschenbuch)
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Produktart: Taschenbuch. Zustand: Neu. These lecture notes aim to provide advanced undergraduates and beginning graduates in all fields of science and engineering with the required knowledge to sensibly use an AFM.
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Buchtitel:Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
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EAN:9789814630351
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ISBN:9789814630351
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Erscheinungsdatum:12.11.2015
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Genre:Technology & Engineering
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Herstellungsland und -region:SG
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Buchreihe:Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Taschenbuch
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Erscheinungsjahr:2015
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Anzahl der Seiten:342 Seiten
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Autor:Ronald Reifenberger
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Verlag:Wspc
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Publikationsname:Fundamentals of Atomic Force Microscopy
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Sprache:Englisch
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