Response Data Compression Techniques in Digital Circuit Testing Jaber Al-Balushi
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Titel: Response Data Compression Techniques in Digital Circuit Testing, Untertitel: Study and Evaluation, Einband: Taschenbuch, Autor: Jaber Al-Balushi, Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 96, Maße: 220x150x6 mm, Gewicht: 161 g, Verkäufer: buch-mimpf.
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Verlag:LAP LAMBERT Academic Publishing
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Autor:Jaber Al-Balushi
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Seiten:96
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Gewicht:161
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Einband:Taschenbuch
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Format:220x150x6 mm
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Sprache:Englisch
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Marke:LAP LAMBERT Academic Publishing
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Response Data Compression Techniques in Digital Circuit Testing
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Erscheinungsjahr:20141111
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Produktart:Bücher
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Buchtitel:Response Data Compression Techniques in Digital Circuit Testing
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Untertitel:Study and Evaluation
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Publikationsname:Response Data Compression Techniques in Digital Circuit Testing
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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ISBN:9783659239618
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