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Reliability Evaluation of Some Fault-Tolerant Computer Architectures T. Nishio

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Titel: Reliability Evaluation of Some Fault-Tolerant Computer Architectures, Einband: Taschenbuch, Autor: T. Nishio, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 140, Maße: 235x155x8 mm, Gewicht: 224 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Netzwerk (elektronisch) Prozessor / Mikroprozessor Fehlertolerantes System Rechnerarchitektur Technische Zuverlässigkeit computer computer architecture reliability.

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