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R. Dean Adams | High Performance Memory Testing | Buch | Englisch (2002) | xiv

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Titel: High Performance Memory Testing | Zusatz: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test | Medium: Buch | Autor: R. Dean Adams | Einband: Gebunden | Inhalt: xiv / 250 S. | Auflage: 2003 | Sprache: Englisch | Seiten: 266 | Maße: 241 x 160 x 19 mm | Erschienen: 30.09.2002 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

High Performance Memory Testing
Autor:

R. Dean Adams
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2002
Anzahl der Seiten:

266
Marke:

Springer US, Springer US, New York, N.Y.
Hersteller:

Springer US, Springer US, New York, N.Y.
Verlag:

Springer US, Springer US, New York, N.Y.
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Importe
Ausgabe:

2003
Titelzusatz:

Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1402072554

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