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Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales: Synchrotron X-ray Microdiffraction

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From the Contents: Introduction. - Synchrotron White-beam X-ray Microdiffraction at the Advanced Light Source, Berkeley Lab. - Electromigration-induced Plasticity in Cu Interconnects: The Length Scale Dependence.

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ISBN-13:

9789812873347
Book Title:

Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales
ISBN:

9789812873347

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