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Picosecond Electronics and Optoelectronics II: Proceedings of the Second OSA-IEE

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I High-Speed Probing Techniques. - Picosecond Sampling of GaAs Integrated Circuits. - Electro-optic Sampling of High-Speed, InP-Based Integrated Circuits. - Electro-optic Sampling Analysis of Timing Patterns at Critical Internal Nodes in Gigabit GaAs Multiplexers/Demultiplexers.

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