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Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM

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Titel: Physical Principles of Electron Microscopy | Zusatz: An Introduction to TEM, SEM, and AEM | Medium: Taschenbuch | Autor: R. F. Egerton | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xi / 196 S. / 109 s/w Illustr. / 15 farbige Illustr. / 196 p. 124 illus. / 15 illus. in color. | Auflage: Softcover reprint of the original 2nd edition 2016 | Sprache: Englisch | Seiten: 208 | Maße: 235 x 155 x 12 mm | Erschienen: 30.05.2018 | Anbieter: Buchbär.

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Publikationsname:

Physical Principles of Electron Microscopy
Autor:

R. F. Egerton
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2018
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

208
Marke:

Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing
Hersteller:

Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing
Verlag:

Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing
Format:

Taschenbuch
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

Softcover reprint of the original 2nd edition 2016
Titelzusatz:

An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Schlagworte:

Maschinenbau, Fertigungstechnik, Biophysik, Technik, Spektroskopi
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3319819860

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