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Pattern Recognition, Machine Intelligence and Biometrics Patrick S. P. Wang

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Titel: Pattern Recognition, Machine Intelligence and Biometrics, Einband: Buch, Autor: Patrick S. P. Wang, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 908, Maße: 241x160x54 mm, Gewicht: 1507 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Biometrie Intelligenz / Künstliche Intelligenz KI Künstliche Intelligenz - AI Mustererkennung Biometrics Computer vision HEP Machine Intelligence Simulations image processing modeling pattern recognition.

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