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Patrick Echlin (u. a.) | Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray...

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  • Buchtitel:
    Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
  • Autor:
    Patrick Echlin
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2013
  • Anzahl der Seiten:
    476
  • Marke:
    Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
  • Hersteller:
    Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
  • Verlag:
    Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    Softcover reprint of the original 1st edition 1986
  • Schlagworte:
    Medizin, Andere Fachgebiete, Werkstoffprüfung, Klinische Fächer,
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    1475790295
  • Standardversand:
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