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Parameterschätzung in stochastischen Volatilitätsmodellen von Bishwal, Jaya P. N.

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Fractional Ornstein-Uhlenbeck Processes, Levy-Ornstein-Uhlenbeck Processes and Fractional Levy-Ornstein-Uhlenbeck Processes. - Inference for General Semimartingales and Selfsimilar Processes. - Estimation in Gamma-Ornstein-Uhlenbeck Stochastic Volatility Model.

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EAN:

9783031038600
UPC:

9783031038600
ISBN:

9783031038600
Format:

Hardback, 613 pages, 2022 Edition
Author:

Bishwal, Jaya P. N.
Item Height:

3.5 cm
Item Length:

23.4 cm
Item Weight:

1.12 kg
Item Width:

15.6 cm
Language:

Eng
Publisher:

Springer International Publishing

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