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Narinder Singh | An Artificial Intelligence Approach to Test Generation | Buch

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Titel: An Artificial Intelligence Approach to Test Generation | Medium: Taschenbuch | Autor: Narinder Singh | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xiv / 194 S. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 1987 | Sprache: Englisch | Seiten: 212 | Maße: 235 x 155 x 12 mm | Erschienen: 05.10.2011 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

An Artificial Intelligence Approach to Test Generation
Autor:

Narinder Singh
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2011
Anzahl der Seiten:

212
Marke:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Hersteller:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Verlag:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

Softcover reprint of the original 1st edition 1987
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1461291836

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