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Milo¿ Stanisavljevi¿ (u. a.) | Reliability of Nanoscale Circuits and Systems

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Titel: Reliability of Nanoscale Circuits and Systems | Zusatz: Methodologies and Circuit Architectures | Medium: Taschenbuch | Autor: Milo¿ Stanisavljevi¿ (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xxvii / 195 S. | Auflage: 2011 | Sprache: Englisch | Seiten: 224 | Maße: 235 x 155 x 13 mm | Erschienen: 11.10.2014 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    Reliability of Nanoscale Circuits and Systems
  • Autor:
    Milo¿ Stanisavljevi¿
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2014
  • Anzahl der Seiten:
    224
  • Marke:
    Springer US, Springer New York
  • Hersteller:
    Springer US, Springer New York
  • Verlag:
    Springer US, Springer New York
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    2011
  • Titelzusatz:
    Methodologies and Circuit Architectures
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    148998254X
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 19. May 2025 und 21. May 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
    Deutschland
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