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Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics by Zhiyong Ma (English)

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By Zhiyong Ma, David G. Seiler. Zhiyong Ma received his MS degree in materials engineering from Purdue University, Indiana, and a PhD in materials science and engineering from the University of Illinois, Urbana-Champaign.

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Format:

Hardcover
Language:

English
ISBN-13:

9789814745086
Author:

Zhiyong Ma, David G. Seiler
Book Title:

Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
ISBN:

9789814745086

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