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Measurement of seeded defect width in the bearing using Sym5 wavelet Manpreet Si

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Titel: Measurement of seeded defect width in the bearing using Sym5 wavelet, Einband: Taschenbuch, Autor: Manpreet Singh, Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 168, Maße: 220x150x11 mm, Gewicht: 268 g, Verkäufer: buch-mimpf.

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