Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip Patrick Girard
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Titel: Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip, Einband: Buch, Autor: Patrick Girard, Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, Sprache: Englisch, Seiten: 328, Maße: 241x160x24 mm, Gewicht: 658 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Intelligent VLSI Test Engineering Intelligent Yield Optimization Machine Learning in Design and Test Smart Analytics for semiconductor design and test VLSI Design for Machine Learning.
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Verlag:Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland
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Autor:Patrick Girard
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Seiten:328
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Gewicht:658
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Einband:Buch
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Format:241x160x24 mm
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Sprache:Englisch
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Marke:Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
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Erscheinungsjahr:20230314
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Produktart:Bücher
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Buchtitel:Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
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Untertitel:Keine Angabe
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Publikationsname:Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:Intelligent VLSI Test Engineering Intelligent Yield Optimizat...
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ISBN:9783031196386
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