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Kwang-Ting Cheng (u. a.) | Delay Fault Testing for VLSI Circuits | Taschenbuch

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141,95 €

Titel: Delay Fault Testing for VLSI Circuits | Medium: Taschenbuch | Autor: Kwang-Ting Cheng (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xii / 191 S. / 2 s/w Illustr. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 1998 | Sprache: Englisch | Seiten: 208 | Maße: 235 x 155 x 12 mm | Erschienen: 12.10.2012 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    Delay Fault Testing for VLSI Circuits
  • Autor:
    Kwang-Ting Cheng
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2012
  • Anzahl der Seiten:
    208
  • Marke:
    Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
  • Hersteller:
    Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
  • Verlag:
    Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    Softcover reprint of the original 1st edition 1998
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Technik, Computer
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    1461375614
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 19. July 2025 und 21. July 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
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  • Versand ausgeschlossen:
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