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Krzysztof Iniewski (u. a.) | Deep Learning for Advanced X-ray Detection and...

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Titel: Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications | Medium: Buch | Redaktion: Krzysztof Iniewski (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: vii / 261 S. / 75 farbige Illustr. / 261 p. 75 illus. in color. | Sprache: Englisch | Seiten: 272 | Maße: 241 x 160 x 21 mm | Erschienen: 23.01.2025 | Anbieter: Faboplay.

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Publikationsname:

Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applicatio
Autor:

Krzysztof Iniewski
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2025
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

272
Marke:

Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing, S
Hersteller:

Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing, S
Verlag:

Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing, S
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Optische Physik,
Redaktion:

Krzysztof Iniewski
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3031756525

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