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Kim Phuc Tran | Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in...

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Titel: Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing | Medium: Buch | Redaktion: Kim Phuc Tran | Einband: Gebunden | Inhalt: vi / 269 S. / 29 s/w Illustr. / 38 farbige Illustr. / 269 p. 67 illus. / 38 illus. in color. | Auflage: 1st edition 2022 | Sprache: Englisch | Seiten: 276 | Maße: 241 x 160 x 21 mm | Erschienen: 30.08.2021 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manu
Autor:

Kim Phuc Tran
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2021
Anzahl der Seiten:

276
Marke:

Springer International Publishing
Hersteller:

Springer International Publishing
Verlag:

Springer International Publishing
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

1st edition 2022
Schlagworte:

Maschinenbau, Fertigungstechnik, Kybernetik und Systemtheorie, Te
Redaktion:

Kim Phuc Tran
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3030838188

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