Introduction to Many-Facet Rasch Measurement: Analyzing and Evaluating
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EAN:9783631656150
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UPC:9783631656150
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ISBN:9783631656150
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Breite:15 cm
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Gewicht:0.37 kg
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Höhe:2 cm
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Länge:21.1 cm
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsjahr:2015
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Anzahl der Seiten:244 Seiten
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Autor:Thomas Eckes
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Verlag:Peter Lang, Peter Lang Gmbh, Internationaler Verlag der Wissenschaften
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Publikationsname:Introduction to Many-Facet Rasch Measurement
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Sprache:Englisch
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