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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and

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Infrared Model Dielectric Functions. - Polaritons in Semiconductor Layer Structures. - Anisotropic Substrates. - Zinsblende-Structure Materials (III-V). - Wurtzite-Structure Materials (Group-III Nitrides, ZnO).

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ISBN-13:

9783642062285
Book Title:

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
ISBN:

9783642062285

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