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Einfluss der Temperatur auf Mikroelektronik und Systemzuverlässigkeit: A...

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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach by Lall, Pradeep; Pecht, Michael G.; Hakim, Edward B. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less

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