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High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor...

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Titel: High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip | Medium: Taschenbuch | Autor: Anupam Chattopadhyay (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xx / 197 S. / 32 s/w Illustr. / 72 farbige Illustr. / 197 p. 104 illus. / 72 illus. in color. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 2018 | Sprache: Englisch | Seiten: 220 | Maße: 235 x 155 x 13 mm | Erschienen: 12.05.2018 | Anbieter: Buchbär.

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Buchtitel:

High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Pr
Autor:

Anupam Chattopadhyay
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2018
Anzahl der Seiten:

220
Marke:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Hersteller:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Verlag:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

Softcover reprint of the original 1st edition 2018
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

9811093210

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