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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations by Ronald G. Reife

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These lecture notes aim to provide advanced undergraduates and beginning graduates in all fields of science and engineering with the required knowledge to sensibly use an AFM. by Ronald G. Reifenberger.

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ISBN-13:

9789814630344
Book Title:

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
ISBN:

9789814630344

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