Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Buch Wiley-VCH
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Durch zahlreiche Beispiele und Abbildungen wird das Verständnis für komplexe Konzepte erleichtert, was das Buch zu einer wertvollen Ressource für Studierende, Forscher und Fachleute auf diesem Gebiet macht.
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Anzahl der Seiten:344
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Autor:Padilla, Moises
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Buchtitel:Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Buch
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Sprache:Englisch
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Verlag:Wiley-VCH
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Erscheinungsjahr:2014-07-02
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Format:hardcover
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Breite:173.000
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Höhe:23.000
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EAN:9783527411528
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ISBN:9783527411528
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