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Dislocation and strain relaxation at III-V semiconductor interface Yi Wang

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Titel: Dislocation and strain relaxation at III-V semiconductor interface, Untertitel: A TEM and theoretical study, Einband: Taschenbuch, Autor: Yi Wang, Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 132, Maße: 220x150x8 mm, Gewicht: 215 g, Verkäufer: buch-mimpf.

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