Development and Characterization of a Dispersion-Encoded Method for Low-Coherenc
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Titel: Development and Characterization of a Dispersion-Encoded Method for Low-Coherence Interferometry, Einband: Taschenbuch, Autor: Christopher Taudt, Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden, Springer Fachmedien Wiesbaden, Sprache: Englisch, Seiten: 188, Maße: 210x148x11 mm, Gewicht: 251 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: surface metrology profilometry semiconductor manufacturing Open Access Optical Metrology.
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Verlag:Springer Fachmedien Wiesbaden, Springer Fachmedien Wiesbaden
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Autor:Christopher Taudt
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Seiten:188
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Gewicht:251
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Einband:Taschenbuch
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Format:210x148x11 mm
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Sprache:Englisch
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Marke:Springer Fachmedien Wiesbaden, Springer Fachmedien Wiesbaden
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Development and Characterization of a Dispersion-Encoded Metho...
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Erscheinungsjahr:20211117
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Produktart:Bücher
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Buchtitel:Development and Characterization of a Dispersion-Encoded Metho...
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Untertitel:Keine Angabe
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Publikationsname:Development and Characterization of a Dispersion-Encoded Metho...
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:surface metrology profilometry semiconductor manufacturing ...
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ISBN:9783658359256
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