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David G. Rickerby (u. a.) | Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy...

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  • Buchtitel:
    Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Res
  • Autor:
    David G. Rickerby
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    1999
  • Anzahl der Seiten:
    516
  • Marke:
    Springer Netherland, Springer Netherlands
  • Hersteller:
    Springer Netherland, Springer Netherlands
  • Verlag:
    Springer Netherland, Springer Netherlands
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    Softcover reprint of the original 1st edition 1999
  • Schlagworte:
    Maschinenbau, Fertigungstechnik, Physik der kondensierten Materie
  • Redaktion:
    David G. Rickerby
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    0792359402
  • Standardversand:
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