David C. Joy Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy an (Gebundene Ausgabe)
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Autor:David C. Joy
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Buchtitel:Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis
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EAN:9780195088748
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Breite:21mm
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Genre:Science Nature & Math
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Produktart:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsdatum:15.06.1995
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ISBN-10:0195088743
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ISBN:9780195088748
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Herstellungsland und -region:US
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Höhe:243mm
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Buchreihe:Oxford Series in Optical and Imaging Sciences
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Gewicht:499g
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Verlag:Oxford University Press Inc
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Sprache:Englisch
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Länge:161mm
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Thematik:Computing & Internet
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