Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces Helmut Dosch
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Titel: Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces, Untertitel: Evanescent X-Ray and Neutron Scattering, Einband: Taschenbuch, Autor: Helmut Dosch, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 160, Maße: 235x155x9 mm, Gewicht: 254 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Phase transitions Phasenübergänge Röntgenstrahlung und Neutronenstreuung Streuung X-ray diffraction oberflächeninduzierte kritische Phänomene scattering specular reflection surface surface-induced critical phenomea synchrotron radiation x-ray and neutron scattering.
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