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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of SiN Interfaces by

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Short Title ATOMIC SCALE CHARACTERIZATION. Silicon Nitride Ceramics. - Structural Energetics of β−Si3N4 (1010) Surfaces. - Atomic Resolution Study of the Interfacial Bonding at SI3N4/CEO2−∂ Grain Boundaries.

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ISBN-13:

9781461428572
Book Title:

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of SiN
ISBN:

9781461428572

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