Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratchin
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Titel: Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching, Untertitel: Application to Rough and Natural Surfaces, Einband: Taschenbuch, Autor: Gerd Kaupp, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 308, Maße: 235x155x17 mm, Gewicht: 470 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Atomic Force Microscopy Biology Nanoindentation Nanoscratching Nanotechnology Rough natural surfaces Scanning nearfield optical microscopy basics.
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Seiten:308
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Gewicht:470
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Einband:Taschenbuch
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Marke:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Te...
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Publikationstitel:Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy...
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Buchtitel:Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy...
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Untertitel:Application to Rough and Natural Surfaces
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:Atomic Force Microscopy Biology Nanoindentation Nanoscratch...
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ISBN:9783642066634
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Reihe:Nanoscience And Technology
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Taschenbuch
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Erscheinungsjahr:2010
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Anzahl der Seiten:308 Seiten
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Autor:Gerd Kaupp
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Verlag:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin
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Publikationsname:Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy And Nanoscratching
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Sprache:Englisch
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