Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics Hui Xie (u. a.) Taschenbuch xiv 2014
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Titel: Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics | Zusatz: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments | Medium: Taschenbuch | Autor: Hui Xie (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xiv / 344 S. | Auflage: 2012 | Sprache: Englisch | Seiten: 360 | Maße: 235 x 155 x 20 mm | Erschienen: 26.11.2014 | Anbieter: Buchbär.
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Buchtitel:Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics
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Autor:Hui Xie
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Sprache:Englisch
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Erscheinungsjahr:2014
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Anzahl der Seiten:360
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Marke:Springer Berlin, Springer Berlin Heidelberg
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Hersteller:Springer Berlin, Springer Berlin Heidelberg
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Verlag:Springer Berlin, Springer Berlin Heidelberg
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Format:Taschenbuch
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Genre:Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
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Ausgabe:2012
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Titelzusatz:Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments
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Schlagworte:Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Regelungstechnik,
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Herstellungsland und -region:Deutschland
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ISBN:3642445012
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