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Rasterkraftmikroskopie AFM: Prinzipien, Funktionsweise und Einschränkungen,...

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Atomic Force Microscopy Afm : Principles, Modes of Operation and Limitations, Hardcover by Yang, Hongshun, ., ISBN 1631171720, ISBN-13 9781631171727, Brand New, Free P&P in the UK

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Book Title:

Atomic Force Microscopy Afm : Principles, Modes of Operation and
ISBN:

9781631171727

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