An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS)...
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Titel: An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science | Medium: Taschenbuch | Autor: Sarah Fearn | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: Kartoniert / Broschiert | Sprache: Englisch | Seiten: 68 | Maße: 254 x 178 x 5 mm | Erschienen: 16.10.2015 | Anbieter: Buchbär.
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