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Eine Einführung in die Flugzeit Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

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While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties.

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9781681740249
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9781681740249
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9781681740249
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