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Advanced Transmission Electron Microscopy Imaging and Diffraction in Nanoscience

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Titel: Advanced Transmission Electron Microscopy | Zusatz: Imaging and Diffraction in Nanoscience | Medium: Taschenbuch | Autor: John C. H. Spence (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xxvi / 729 S. / 92 s/w Illustr. / 218 farbige Illustr. / 729 p. 310 illus. / 218 illus. in color. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 2017 | Sprache: Englisch | Seiten: 756 | Maße: 235 x 155 x 38 mm | Erschienen: 23.06.2018 | Anbieter: Buchbär.

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Buchtitel:

Advanced Transmission Electron Microscopy
Autor:

John C. H. Spence
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2018
Anzahl der Seiten:

756
Marke:

Springer US, Springer New York
Hersteller:

Springer US, Springer New York
Verlag:

Springer US, Springer New York
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

Softcover reprint of the original 1st edition 2017
Titelzusatz:

Imaging and Diffraction in Nanoscience
Schlagworte:

Maschinenbau, Fertigungstechnik, Physik der kondensierten Materie
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1493982494

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