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Erweiterte Materialcharakterisierung: Grundlagen, neue Anwendungen und F

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Introduction to material characterization 2. X-Ray Diffraction (XRD) 3. Scanning electron microscope (SEM) 6. Field emission scanning electron microscope (FESEM) 7. Transmission electron microscope (TEM) 8.

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Format:

Paperback
ISBN-13:

9781032375113
Author:

Ch Sateesh Kumar, M. Muralidhar Singh, Ram Krishna
Type:

NA
Book Title:

Advanced Materials Characterization
Publication Name:

NA
ISBN:

9781032375113

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